Resumen
This document specifies a test method for plasma resistance of ceramic components in semiconductor manufacturing equipment. It is applicable to ceramic components of plasma-resistant components in dry etching chambers used in semiconductor manufacturing.
Informaciones generales
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Estado: PublicadoFecha de publicación: 2019-06Etapa: Norma Internacional confirmada [90.93]
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Edición: 1Número de páginas: 4
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Comité Técnico :ISO/TC 206ICS :81.060.30
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