Draft
International Standard
ISO/DIS 16666
Surface chemical analysis — Total reflection X-ray fluorescence — Principles and general requirements
Reference number
ISO/DIS 16666
Edition 1
Proyecto Norma internacional
ISO/DIS 16666
84747
Este borrador de Norma Internacional se encuentra en la fase de consultas con los miembros de ISO.

Resumen

This document specifies terms and definitions for analytical methods where elements are identified and their concentrations determined by measuring X ray fluorescence radiation. The aim of this document is to establish terms and definitions for TXRF and to match these with terms and definitions relating to X ray fluorescence analysis.

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