Norme internationale
ISO 13424:2013
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Rapport des résultats de l'analyse de films minces
Numéro de référence
ISO 13424:2013
ISO 13424:2013
Edition 1
2013-10
2013-10
© ISO 2024
Norme internationale
p
ISO 13424:2013
53773
Indisponible en français
Publiée
(Edition 1, 2013)
Cette norme a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2021.
Cette édition reste donc d’actualité.
ISO 13424:2013
ISO 13424:2013
53773
CHF
173
Convertir les francs suisses (CHF) dans une autre devise
Résumé
ISO 13424:2013 specifies the minimum amount of information required in reports of analyses of thin films on a substrate by XPS. These analyses involve measurement of the chemical composition and thickness of homogeneous thin films, and measurement of the chemical composition as a function of depth of inhomogeneous thin films by angle-resolved XPS, XPS sputter-depth profiling, peak-shape analysis, and variable photon energy XPS.
Informations générales
-
État actuel: PubliéeDate de publication: 2013-10Stade: Norme internationale confirmée [90.93]
-
Edition: 1
-
Comité technique :ISO/TC 201/SC 7ICS :71.040.40
- RSS mises à jour
Cycle de vie
Vous avez une question?
Consulter notre FAQ
Service à la clientèle
+41 22 749 08 88
Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)