Résumé
ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2015-07Stade: Norme internationale en cours d'examen systématique [90.20]
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Edition: 1
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Comité technique :ISO/TC 172/SC 9ICS :31.020
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Cycle de vie
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Actuellement
PubliéeISO 17901-2:2015
Les normes ISO sont réexaminées tous les cinq ans
Stade: 90.20 (En cours d'examen)