Résumé
ISO 19606:2017 describes a method to evaluate the adequateness of a probe tip for fine-ceramic thin-film surface roughness measurements by atomic force microscopy, of surfaces with an arithmetical mean roughness, Ra, in the range of about 1 nm to 30 nm and a mean width of roughness profile elements, RSm, in the range of about 0,04 μm to 2,5 μm.
Informations générales
-
État actuel: AnnuléeDate de publication: 2017-02Stade: Annulation de la Norme internationale [95.99]
-
Edition: 1
-
Comité technique :ISO/TC 206ICS :81.060.30
- RSS mises à jour
Cycle de vie
-
Actuellement
-
Révisée par
PubliéeISO 19606:2024