ISO/WD TR 23683
Surface chemical analysis — scanning probe microscopy — Guideline for experimental quantification of carrier concentration in semiconductor devices by using electric scanning probe microscopy
Numéro de référence
ISO/WD TR 23683
Edition 1
© ISO 2024
Projet de travail
Projet
Un groupe de travail a préparé un projet.

Informations générales

  • État actuel
     : Projet
    Stade
    : WD approuvé pour enregistrement comme CD [20.99]
  • Edition
     : 1
  • Comité technique :
    ISO/TC 201/SC 9
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

Objectifs de développement durable

Cette norme contribue à l'Objectif de développement durable suivant

9
Industrie, innovation et infrastructure

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