ISO/AWI TS 23879
u
ISO/AWI TS 23879
84861

Тезис

This document describes methods for measuring the lateral size and thickness of graphene oxide (GO) flakes using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) respectively, including sample pre-treatments, measurement procedures and data analysis. It is applicable to the characterization of graphene oxide in powder and liquid dispersion forms.


Общая информация 

  •  :  Under development
  •  : 1
  •  : ISO/TC 229 Nanotechnologies
  •  :

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития:

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.