Le dernier examen de cette norme date de 2021.
Cette édition reste donc d’actualité.
Résumé
PrévisualiserL'ISO 14237:2010 spécifie une méthode de spectrométrie de masse des ions secondaires pour la détermination de la concentration atomique de bore dans le silicium monocristallin au moyen de matériaux dopés uniformément, étalonnés par un matériau de référence certifié à bore implanté. Cette méthode est applicable au bore dopé uniformément dans la gamme de concentrations de 1 x 1016 atomes/cm3 à 1 x 1020 atomes/cm3.
-
État actuel: PubliéeDate de publication: 2010-07
-
Edition: 2Nombre de pages: 19
-
- ICS :
- 71.040.40 Méthodes d'analyse chimique
Acheter cette norme
fr
Format | Langue | |
---|---|---|
std 1 124 | ||
std 2 124 | Papier |
- CHF124
Vous avez une question?
Consulter notre FAQ
Service à la clientèle
+41 22 749 08 88
Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Suivez l'actualité de l'ISO
Inscrivez-vous à notre Newsletter (en anglais) pour suivre nos actualités, points de vue et informations sur nos produits.