недоступно на русском языке

Тезис

 Предпросмотр

ISO 24173:2009 gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.


Общая информация 

  • Текущий статус
     :  Published
    Дата публикации
     : 2009-09
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 202 Microbeam analysis
  • ICS
     :
    71.040.50 Physicochemical methods of analysis

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития:

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
PDF на CD
  • CHF166

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.50
  8. ISO 24173:2009