недоступно на русском языке

Тезис

 Preview

ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.


Общая информация 

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2015-07
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 172/SC 9 Laser and electro-optical systems
  • ICS
     :
    31.020 Electronic components in general

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF124

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 172/SC 9
  6. ISO 17901-2:2015