недоступно на русском языке

Тезис

 Preview

IEC TR 63258:2021 is a Technical Report focused on the practical protocol of ellipsometry to evaluate the thickness of nanoscale films. This document does not include any specification of the ellipsometers, but suggests how to minimize the data variation to improve data reproducibility.


Общая информация 

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2021-03
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 229 Nanotechnologies
  • ICS
     :
    07.120 Nanotechnologies

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF40

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 07
  6. 07.120
  7. IEC/TR 63258:2021