ISO 17915:2018
p
ISO 17915:2018
72946
недоступно на русском языке

Тезис

 Preview

This document describes methods of measuring temperature and injected current dependence of lasing wavelengths, and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications.

This document is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields.


Общая информация 

  •  : Опубликовано
     : 2018-05
  •  : 1
  •  : ISO/TC 172/SC 9 Laser and electro-optical systems
  •  :
    31.260 Optoelectronics. Laser equipment

Приобрести данный стандарт

ru
Формат Язык
std 1 145 PDF + ePub
std 2 145 Бумажный
  • CHF145

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)