Reference number
ISO 17915:2018
© ISO 2025
International Standard
ISO 17915:2018
Optics and photonics — Measurement method of semiconductor lasers for sensing
Edition 1
2018-05
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2018)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2023. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 17915:2018

Язык
Формат
CHF 155
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document describes methods of measuring temperature and injected current dependence of lasing wavelengths, and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications.

This document is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2018-05
    Этап
    : Подтверждение действия международного стандарта [90.93]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 172/SC 9
    ICS :
    31.260 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Интернет-магазин
  4. ТК
  5. ISO/TC 172/SC 9
  6. ISO 17915:2018