недоступно на русском языке

Тезис

 Preview

This document describes methods of measuring temperature and injected current dependence of lasing wavelengths, and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications.

This document is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields.


Общая информация 

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2018-05
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 172/SC 9 Laser and electro-optical systems
  • ICS
     :
    31.260 Optoelectronics. Laser equipment

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF145

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 172/SC 9
  6. ISO 17915:2018