International Standard
ISO 18118:2024
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Reference number
ISO 18118:2024
Версия 3
2024-02
© ISO 2024
International Standard
Предпросмотр
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 3, 2024)

ISO 18118:2024

Формат
Язык
CHF 129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document gives guidance on the measurement and use of experimentally-determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials by Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. The methods described only apply to polycrystalline and amorphous materials, as effects inherent to single-crystal samples are not addressed.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2024-02
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 3
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 7
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO 18118:2024